Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometer (ICP-OES) : 무기물 분석

Gas Chromatograph-Mass Spectrometer (GC-MS) : 유기화합물 분석

Liquid Chromatograph-Variable Wavelength Detector (LC-VWD) : 비휘발성 유기화합물 분석

Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FT-IR) : 화합물의 구조적 특성 분석

Differential Scanning Calorimetry (DSC) : 물질의 열적 성질 분석

X-ray Diffraction (XRD) : 결정학적 상 분석

Viscometer : 점도 측정

Zetasizer : 나노 입자 크기, 분산 상태와 제타 전위 측정

Electrochemical Analyzer : 동전위 및 정전위 실험을 통한 전기화학 특성 분석

Atomic Force Microscope (AFM) : 원자 수준의 해상도로 표면의 형상 및 기계적 특성 분석

Optical Surface Profilometer : 광학적 표면조도 측정

Surface Tension Meter : 표면장력 측정

Hardness Tester : 비커스, 누프 등 경도 측정

Spectrophotometer : 빛의 흡수 및 반사 분석을 통한 색상 정량 측정

Scanning Electron Microscopy-Energy Dispersive Spectrometer (SEM-EDS) : 표면의 미세구조와 원소 분석

UV Spectrophotometer : UV/가시광선 흡수를 이용해 시료의 성분 분석

X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) : 원자의 전자 상태를 분석하여 표면 분석

Thermogravimetric Analyzers (TGA) : 온도 변화에 따른 질량 변화 측정하여 열적 특성 분석

Mercury Intrusion Porosimeter : 수은을 사용한 고체 재료의 기공 크기와 분포 측정